高低溫低氣壓試驗(yàn)箱(定制)
簡(jiǎn)要描述:高低溫低氣壓試設(shè)備名稱(chēng):高低溫低氣壓試驗(yàn)箱(定制)型號(hào):GLD1000-70W標(biāo)稱(chēng)內(nèi)容積:可定制溫度范圍:-70℃~+150℃濕度范圍:工作:25%~98%RH壓力范圍:常壓~0.5kPa降溫時(shí)間:+20℃→ -65℃,0.5℃/min≤0.5℃/min降溫速率線性變化(常壓、空載)升溫時(shí)間:-70℃→150℃,0.5℃/min≤0.5℃/min 升溫速率線性變化(常壓、空載)降
所屬分類(lèi):低氣壓試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-08-18
廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
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高低溫低氣壓試驗(yàn)箱(定制)
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱(定制)
測(cè)試方法
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法, 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法,濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170. 10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法,高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分:濕熱試驗(yàn)
GB/T2423. 21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法
GB/T2423.25-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z-AM:低溫-低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.26-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z-BM:高溫-低氣壓綜合試驗(yàn)
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